主 講 人：杜憶萍 博士（中央研究院 統計科學研究所）
講    題：Statistical Analysis for cryo-Electron Microscopy Images
時    間：107年05月08日（星期二）上午11：00 ～ 12：00
地    點：中央大學 綜教館O209室
茶    會：上午10：30 ～ 11：00        地  點：鴻經館510室